Předcházející      Další

Vylučování tenkých vrstev na substráty pro replikaci rentgenové optiky

 

 

Autor :            Veronika Semencová

Ročník :          5.

Ústav :            Anorganická chemie

Školitel :         Doc.Ing. Vratislav Flemr, CSc.

 

 

Zrcadlová optika na bázi niklu se využívá pro fokusaci RTG-záření. Na tuto optiku jsou kladeny mimořádné nároky z hlediska kvality optického povrchu, zejména jeho mikrodrsnosti. Substrát musí být vyroben z takového materiálu, aby bylo snadné provést sejmutí repliky niklového povlaku na základě rozdílné teplotní roztažnosti mezi substrátem a replikou. Jako vhodný substrát pro niklové povlaky se ukázala hliníková slitina AlMg5.

Cílem této práce je na vysoce lesklý povrch substrátu chemicky vyloučit  bezporézní, tvrdou a vysoce adhezní vrstvu, která dokonale kopíruje optický tvar substrátu. Při přímém nanesení elektrochemického povlaku niklu na hliníkový substrát je replika napadena bodovou korozí a její povrch není lesklý. Korozi elektrochemické repliky lze zabránit chemickým vyloučením podkladové niklové vrstvy z lázně na bázi mléčnanu nikelnatého. Dobrou adhezi chemicky vyloučeného povlaku lze docílit  správnou předúpravou povrchu, popř. mezivrstvou. Kromě různých režimů vylučování niklového povlaku a různých složení lázní byly sledovány mechanické i optické vlastnosti povlaku. Kvalita vyloučeného povlaku byla studována na elektronovém mikroskopu.